长期收各种仪器 工厂仪器设备 倒闭厂 闲置 仪器 二手仪器设
晶体管测量仪器是以通用电子测量仪器为技术基础,以半导体器件为测量对象的电子仪器。用它可以测试晶体三极管(NPN型和PNP型)的共发射极、共基极电路的输入特性、输出特性;测试各种反向饱和电流和击穿电压,还可以测量场效管、稳压管、二极管、单结晶体管、可控硅等器件的各种参数。
ST-SP 2005晶体管测试仪
产品扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机立完成多种工作。
ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广(类,27分类)
Ø升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法,脉冲宽度为标规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导 ,其结果与器件实际值偏差很大)
Ø系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能,无需人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入
问:什么是有载测试?
答:故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载,使其并非工作在空载状态,更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试,集成电路测试仪一般采用有载测试,大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。
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