TEK370B晶体测试仪个人处理

深圳市金诚电子仪器有限公司

高价收倒闭工厂仪器，整批或单出，专业评估
编程器和测试仪的区别：
编程器的主要功能是编程而不是器件测试，器件测试只是其附加功能，它的逻辑状态读取都是io，不能区别对待74HC系列和74LS系列，且无法区分CD4000系列和HEF4000系列的区别 稍有电子常识的人都知道74hc系列和74ls系列采用了不同的逻辑电平标准，CD4000系列也不完全等同于HEF4000系列，例如CD4068、CD4078就和HEF4068、HEF4078就有逻辑功能差异不可代换，这类器件占一定比例。
数字芯片主要有TTL电平标准和COMS电平标准，维修精灵完全按其电平标准判断，以保测试可靠性。编程器一般只能测试其逻辑功能是否正确，而不能对阀值进行测试。例如：用编程器搜索74HC00,编程器将只显示7400,而不能显示是哪种电平标准的。当被测试芯片出现老化、驱动能力下降、等软故障时编程器是根本测试不出来的。维修精灵则是依据阀值进行判断，同样如在搜索74HC00时将显示74HC00,搜索74LS00时显示74LS00,或在HC模式下测试LS芯片将被认为芯片损坏！等等反之亦然。

晶体管测试仪作用
　　可测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。

问：什么是有载测试？
答：故名思意 有载测试即在芯片测试中芯片的每个输出管脚都加有一定负载，使其并非工作在空载状态，更接近芯片在实际电路中的工作状态。有负载测试相对于空载测试的意义在于可以测试出驱动能力下降、功能正常但老化、弱击穿等软故障芯片。编程器普遍采用空载测试，集成电路测试仪一般采用有载测试，大型测试仪更是采用多负载可变阻抗测试精度更高。

美国泰克TEKTRONIX370A,晶体管图示仪TEK370B
TEK370A晶体管测试仪的详细介绍：
带宽：500MHz
通道数：4ch
同步采样率/通道：1 GSa/s
单通道采样率：2GSa/s
记录长度：50000ptc
小垂直灵敏度：1 mV/div
垂直灵敏度：10 V/div
上升时间：700 ps
位数：8 bits
输入阻抗：1 Mohm
输入耦合：AC,DC,GND
输入电压：400 Vrms
***主时基：500 ps/div
主时基：10 s/div
时基精度：0.0025 %
触发源：外置，内置
触发模式：Auto,Edge,Logic,Normal,Pulse,Single
显示类型：Color LCD
显示尺寸：17.78 cm
程控特性/接口特性
接口：Centronics,GPIB,RS232
程控语言：Windows
注：本公司长期回收/销售二手仪器，维修实力雄厚,自主元件级维修综合测试仪,网络分析仪，高频信号源,频谱仪,示波器,失真仪，功率计，彩色信号发生器，函数信号发生器，直流电子负载，信纳仪，调制度表，安规测试仪，音频分析仪，毫伏表，扫频仪,频率计,电桥,电话机测试仪等等。