薄膜电容高低温老化试验箱

薄膜电容高低温老化试验箱箱体材质:
外箱材质:A3钢板,表面磷化静电喷塑
内箱材质:SUS304不锈钢2B级光板
保温材质:**薄**细玻璃纤维
门框隔热:双层耐高低温老化硅橡胶门密封条
薄膜电容高低温老化试验箱温度范围：
温度范围：-20～+150℃-40～+150℃-60～+150℃-70～+150℃等不同的级别试验温度要求。
温度波动度：≤±0.5℃（可根据用户需求提高至0.1℃）
温度均匀度：≤±2℃（可根据用户需求提高至0.5℃）
湿度范围：30%～98%R.H（可按客户要求定做）
湿度误差：≤＋2%/-3%R.H
升温时间：2-3℃/min（可根据用户需求提高至10℃以上）
降温时间：0.7-1℃/min（可根据用户需求提高至10℃以上）
噪音：（dB）≤65
薄膜电容高低温老化试验箱执行标准：
GB2423.1—93《电工电子产品基本环境试验规程》试验A：低温试验方法
GB2423.2—93《电工电子产品基本环境试验规程》试验B：高温试验方法
GB2423.3－93《电工电子产品基本环境试验规程》试验Ca：恒定湿热试验方法
用途：本产品适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部件及材料在复杂的高、低温湿热环境下贮存、运输、使用时复杂的高低温湿热变化适应性试验。
技术规格（注：尺寸可根据您的要求定制）：
薄膜电容高低温老化试验箱控制系统
1.日本神港JCD-33A智能数显调节仪是日本Shinko公司研制的实用型高性能价格比智能调节仪,仪表的精度等级为0.3级,采样周期250ms。具有自由输入,PID自整定,双回路输出,双设定值,多种报警,手动输出等功能。
自由输入：用户通过操作键自由选择10种热电偶（K、J、R、S、B、E、T、N、PL-II、C[W/Re5-26]）、2种热电阻（Pt100、JPt100）的输入类型。
温馨提示：	
本产品报价为参考价格，仅作支持网上展示用途。	
产品具体规格、价格以我司销售报价为主。